Ученые из Всероссийского НИИ автоматики имени Н. Л. Духова и Университета МИСИС предложили прогнозировать возникновение дефектов в материалах ядерных реакторов с помощью новой модели на основе искусственной нейронной сети. Результаты полезны для создания материалов, устойчивых к облучению в течении длительного срока службы.
Риск-аналитик в финтехе: защитник денег в цифровом банкесегодня, в 14:00
Фасад МИСИС
Международный молодёжный саммит NAMASTE INDIA: Global Campus Connect
Пленарная сессия форума Человек.Природа.Время в рамках Десятого международного слёта друзей заповедных островов