Ученые из Всероссийского НИИ автоматики имени Н. Л. Духова и Университета МИСИС предложили прогнозировать возникновение дефектов в материалах ядерных реакторов с помощью новой модели на основе искусственной нейронной сети. Результаты полезны для создания материалов, устойчивых к облучению в течении длительного срока службы.
НИТУ МИСИС — в топ-10 рейтинга вузов по качеству подготовки специалистов в области ИИ
Актив на десятилетия: как углехимия поможет повысить капитализацию угольного бизнеса
Химический «клей» для антибиотика: новая методика удерживает лекарство на раневой повязке до 7 дней